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XRF樣品膜（X熒光光譜儀測(cè)試膜）2024-12-18
XRF測(cè)試（X射線熒光測(cè)試）是一種廣泛應(yīng)用于元素分析的 非破壞性測(cè)試技術(shù)。它基于X射線與物質(zhì)相互作用的原理，通過(guò)測(cè)量物質(zhì)中熒光輻射的能量和 強(qiáng)度來(lái)確定樣品中的元素組成和含量。常用基材有：聚脂薄膜、聚丙烯薄膜常用厚度有：2.5~6μm常用寬幅...
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